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CCD光电参数测试系统的研制

周跃 闫丰 章明朝

周跃, 闫丰, 章明朝. CCD光电参数测试系统的研制[J]. 红外与激光工程, 2014, 43(10): 3451-3456.
引用本文: 周跃, 闫丰, 章明朝. CCD光电参数测试系统的研制[J]. 红外与激光工程, 2014, 43(10): 3451-3456.
Zhou Yue, Yan Feng, Zhang Mingchao. Development of measurement instrument for photoelectric parameters of CCD[J]. Infrared and Laser Engineering, 2014, 43(10): 3451-3456.
Citation: Zhou Yue, Yan Feng, Zhang Mingchao. Development of measurement instrument for photoelectric parameters of CCD[J]. Infrared and Laser Engineering, 2014, 43(10): 3451-3456.

CCD光电参数测试系统的研制

基金项目: 

国家高技术研究发展计划(2012AA03A707)

详细信息
    作者简介:

    周跃(1983-),男,博士,主要从事探测器参数测试与辐射定标方面的研究。Email:zhouy385@ciomp.ac.cn

  • 中图分类号: TN386.5;TP391.4

Development of measurement instrument for photoelectric parameters of CCD

  • 摘要: 研制了一套CCD光电参数测试系统,可实现对CCD的无效像元、相对光谱响应、响应度、等效噪声照度、动态范围、面响应度不均匀性等光电参数的全自动测试。CCD的相对光谱响应测试基于单光路直接比较法实现,而其他CCD光电参数的测试则基于特制的积分球光源。四个可独立开关的溴钨灯分别安置于四个次积分球内,经高精度电动光阑与主积分球级联,主积分球壁上的照度计经标定后可实时测试积分球光源出口照度值。该光源色温不变,可在大动态范围内以较高精度实现连续调节,满足CCD光电参数测试的需求。利用上述装置对E2V公司科学级CCD47-10B进行了实际测试,并分析了测量的不确定度。结果表明:相对光谱响应测试覆盖光谱范围400~1 000 nm,不确定度为4.37%。光电转换参数测试装置距离光源出口23 mm处照度覆盖动态范围0~235 lx,80 mm范围内照度均匀性达到99%,测试不确定度为4.9%。该系统可用于航天级CCD的光电参数测试及芯片甄选。
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-02-05
  • 修回日期:  2014-03-04
  • 刊出日期:  2014-10-25

CCD光电参数测试系统的研制

    作者简介:

    周跃(1983-),男,博士,主要从事探测器参数测试与辐射定标方面的研究。Email:zhouy385@ciomp.ac.cn

基金项目:

国家高技术研究发展计划(2012AA03A707)

  • 中图分类号: TN386.5;TP391.4

摘要: 研制了一套CCD光电参数测试系统,可实现对CCD的无效像元、相对光谱响应、响应度、等效噪声照度、动态范围、面响应度不均匀性等光电参数的全自动测试。CCD的相对光谱响应测试基于单光路直接比较法实现,而其他CCD光电参数的测试则基于特制的积分球光源。四个可独立开关的溴钨灯分别安置于四个次积分球内,经高精度电动光阑与主积分球级联,主积分球壁上的照度计经标定后可实时测试积分球光源出口照度值。该光源色温不变,可在大动态范围内以较高精度实现连续调节,满足CCD光电参数测试的需求。利用上述装置对E2V公司科学级CCD47-10B进行了实际测试,并分析了测量的不确定度。结果表明:相对光谱响应测试覆盖光谱范围400~1 000 nm,不确定度为4.37%。光电转换参数测试装置距离光源出口23 mm处照度覆盖动态范围0~235 lx,80 mm范围内照度均匀性达到99%,测试不确定度为4.9%。该系统可用于航天级CCD的光电参数测试及芯片甄选。

English Abstract

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