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InSb焦平面探测器高低温循环特性研究

王洋 鲁星 孟超 刘俊明 邝永变 孟庆端 朱旭波 司俊杰

王洋, 鲁星, 孟超, 刘俊明, 邝永变, 孟庆端, 朱旭波, 司俊杰. InSb焦平面探测器高低温循环特性研究[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(12): 3701-3706.
引用本文: 王洋, 鲁星, 孟超, 刘俊明, 邝永变, 孟庆端, 朱旭波, 司俊杰. InSb焦平面探测器高低温循环特性研究[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(12): 3701-3706.
Wang Yang, Lu Xing, Meng Chao, Liu Junming, Kuang Yongbian, Meng Qingduan, Zhu Xubo, Si Junjie. Thermal cycle characteristic of InSb focal plane array detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(12): 3701-3706.
Citation: Wang Yang, Lu Xing, Meng Chao, Liu Junming, Kuang Yongbian, Meng Qingduan, Zhu Xubo, Si Junjie. Thermal cycle characteristic of InSb focal plane array detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(12): 3701-3706.

InSb焦平面探测器高低温循环特性研究

基金项目: 

国家自然科学基金(YGZJJ02)

详细信息
    作者简介:

    王洋(1986-),女,硕士生,主要从事光电器件可靠性评估方面的研究。Email:446364485@qq.com

  • 中图分类号: TN215

Thermal cycle characteristic of InSb focal plane array detector

  • 摘要: 制冷型InSb红外焦平面探测器工作时需降温至低温(80 K),器件在整个生命周期会经受从常温(300 K)到低温(80 K)的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验,测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负载和J-T制冷器特性的变化。试验结果表明,探测器可以经受至少2 000次高低温循环,并且探测率变化的幅度5.5%、响应率变化的幅度4.8%、盲元数未发生增加。研究结果为器件的工艺研发和改进提供了参考。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-04-17
  • 修回日期:  2015-05-18
  • 刊出日期:  2015-12-25

InSb焦平面探测器高低温循环特性研究

    作者简介:

    王洋(1986-),女,硕士生,主要从事光电器件可靠性评估方面的研究。Email:446364485@qq.com

基金项目:

国家自然科学基金(YGZJJ02)

  • 中图分类号: TN215

摘要: 制冷型InSb红外焦平面探测器工作时需降温至低温(80 K),器件在整个生命周期会经受从常温(300 K)到低温(80 K)的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验,测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负载和J-T制冷器特性的变化。试验结果表明,探测器可以经受至少2 000次高低温循环,并且探测率变化的幅度5.5%、响应率变化的幅度4.8%、盲元数未发生增加。研究结果为器件的工艺研发和改进提供了参考。

English Abstract

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