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应用干涉仪对经纬仪光学系统主镜的装调和检测

王一凡

王一凡. 应用干涉仪对经纬仪光学系统主镜的装调和检测[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(5): 1275-1279.
引用本文: 王一凡. 应用干涉仪对经纬仪光学系统主镜的装调和检测[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(5): 1275-1279.
Wang Yifan. Alignment and detecting of photoelectric theodolite system through utilizing interferometer[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(5): 1275-1279.
Citation: Wang Yifan. Alignment and detecting of photoelectric theodolite system through utilizing interferometer[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(5): 1275-1279.

应用干涉仪对经纬仪光学系统主镜的装调和检测

基金项目: 

国家“863”计划(2010AA7034320)

详细信息
    作者简介:

    王一凡(1958- ),男,研究员,硕士生导师,主要从事光机电总体设计方面的研究。Email:wangyifan1958@163.com

  • 中图分类号: TH744.3

Alignment and detecting of photoelectric theodolite system through utilizing interferometer

  • 摘要: 随着光电经纬仪的跟踪精度、图像像质质量等技术指标的提高,使光学系统的装调和检测要求也随之提高,传统的装调方法不能够满足新形势下经纬仪的安装精度需求。文中介绍了一种应用干涉仪对经纬仪系统主镜的装调和检测方法,分别从主镜的装配、调整、镀膜、光轴中心检测与校验对主镜的装调思路进行分步骤介绍。应用ZYGO干涉仪对主镜系统检测,从传统的刀口仪、显微镜的定性检测方法上升为使用ZYGO干涉仪对系统的定量检测。检测测试结果说明,应用干涉仪对经纬仪光学系统的检测完全满足光学设计的指标要求,从观察70~80 km航空飞机和5000 m目标靶图像看到目标的图像清晰,图像的边缘对比度好,满足使用要求。干涉仪在经纬仪光学系统主镜装调中的应用,满足高精度经纬仪的需求,从而提高主镜装调精度。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-09-05
  • 修回日期:  2012-10-15
  • 刊出日期:  2013-05-25

应用干涉仪对经纬仪光学系统主镜的装调和检测

    作者简介:

    王一凡(1958- ),男,研究员,硕士生导师,主要从事光机电总体设计方面的研究。Email:wangyifan1958@163.com

基金项目:

国家“863”计划(2010AA7034320)

  • 中图分类号: TH744.3

摘要: 随着光电经纬仪的跟踪精度、图像像质质量等技术指标的提高,使光学系统的装调和检测要求也随之提高,传统的装调方法不能够满足新形势下经纬仪的安装精度需求。文中介绍了一种应用干涉仪对经纬仪系统主镜的装调和检测方法,分别从主镜的装配、调整、镀膜、光轴中心检测与校验对主镜的装调思路进行分步骤介绍。应用ZYGO干涉仪对主镜系统检测,从传统的刀口仪、显微镜的定性检测方法上升为使用ZYGO干涉仪对系统的定量检测。检测测试结果说明,应用干涉仪对经纬仪光学系统的检测完全满足光学设计的指标要求,从观察70~80 km航空飞机和5000 m目标靶图像看到目标的图像清晰,图像的边缘对比度好,满足使用要求。干涉仪在经纬仪光学系统主镜装调中的应用,满足高精度经纬仪的需求,从而提高主镜装调精度。

English Abstract

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