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红外探测器非均匀性校正系统研制

朱瑞飞 王超 魏群 贾宏光 周文明

朱瑞飞, 王超, 魏群, 贾宏光, 周文明. 红外探测器非均匀性校正系统研制[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(7): 1669-1673.
引用本文: 朱瑞飞, 王超, 魏群, 贾宏光, 周文明. 红外探测器非均匀性校正系统研制[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(7): 1669-1673.
Zhu Ruifei, Wang Chao, Wei Qun, Jia Hongguang, Zhou Wenming. Manufacture of nonuniformity correction system for infrared detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(7): 1669-1673.
Citation: Zhu Ruifei, Wang Chao, Wei Qun, Jia Hongguang, Zhou Wenming. Manufacture of nonuniformity correction system for infrared detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(7): 1669-1673.

红外探测器非均匀性校正系统研制

基金项目: 

中国科学院“三期创新”平台;装备预研基金(51301060207)

详细信息
    作者简介:

    朱瑞飞(1986-),男,博士生,主要从事图像处理方面的研究。Email:zhuruifei1105@163.com;贾宏光(1971-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事精确制导技术、微机电一体化技术方面的研究。Email:jiahg@ciomp.ac.cn.

    朱瑞飞(1986-),男,博士生,主要从事图像处理方面的研究。Email:zhuruifei1105@163.com;贾宏光(1971-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事精确制导技术、微机电一体化技术方面的研究。Email:jiahg@ciomp.ac.cn.

  • 中图分类号: TN215

Manufacture of nonuniformity correction system for infrared detector

  • 摘要: 分析了红外焦平面阵列(IRFPA)基于定标的非均匀性校正算法和基于场景的非均匀性校正算法的优势和不足。针对红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型这一特点,提出了一种基于S曲线拟合的校正算法。利用FLIR公司的长波非制冷红外探测器进行信号采集,建立了焦平面探测元的响应模型。描述了基于FLIR长波非制冷红外探测器在FPGA平台的处理流程,并实现了S曲线校正算法,提高了红外图像的质量。实验表明,经过S曲线拟合校正处理,减弱了红外图像的条纹噪声,使IRFPA组件的非均匀性从6.45%降低至2.06%。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-11-11
  • 修回日期:  2012-12-15
  • 刊出日期:  2013-07-25

红外探测器非均匀性校正系统研制

    作者简介:

    朱瑞飞(1986-),男,博士生,主要从事图像处理方面的研究。Email:zhuruifei1105@163.com;贾宏光(1971-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事精确制导技术、微机电一体化技术方面的研究。Email:jiahg@ciomp.ac.cn.

    朱瑞飞(1986-),男,博士生,主要从事图像处理方面的研究。Email:zhuruifei1105@163.com;贾宏光(1971-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事精确制导技术、微机电一体化技术方面的研究。Email:jiahg@ciomp.ac.cn.

基金项目:

中国科学院“三期创新”平台;装备预研基金(51301060207)

  • 中图分类号: TN215

摘要: 分析了红外焦平面阵列(IRFPA)基于定标的非均匀性校正算法和基于场景的非均匀性校正算法的优势和不足。针对红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型这一特点,提出了一种基于S曲线拟合的校正算法。利用FLIR公司的长波非制冷红外探测器进行信号采集,建立了焦平面探测元的响应模型。描述了基于FLIR长波非制冷红外探测器在FPGA平台的处理流程,并实现了S曲线校正算法,提高了红外图像的质量。实验表明,经过S曲线拟合校正处理,减弱了红外图像的条纹噪声,使IRFPA组件的非均匀性从6.45%降低至2.06%。

English Abstract

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