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元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响

游兴海 胡小川 彭家琪 张彬

游兴海, 胡小川, 彭家琪, 张彬. 元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(1): 120004-0120004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0120004
引用本文: 游兴海, 胡小川, 彭家琪, 张彬. 元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(1): 120004-0120004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0120004
You Xinghai, Hu Xiaochuan, Peng Jiaqi, Zhang Bin. Effect of defects of component on stray radiation characteristics of infrared optical system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(1): 120004-0120004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0120004
Citation: You Xinghai, Hu Xiaochuan, Peng Jiaqi, Zhang Bin. Effect of defects of component on stray radiation characteristics of infrared optical system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(1): 120004-0120004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0120004

元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响

doi: 10.3788/IRLA201746.0120004
基金项目: 

科技部创新人才推进计划重点领域创新团队资助(2014RA4051);四川省教育厅创新团队计划资助项目(13Td0048)

详细信息
    作者简介:

    游兴海(1990-),男,硕士生,主要从事红外光学系统设计与优化方面的研究。Email:youxinghai_scu@163.com

  • 中图分类号: O434.3

Effect of defects of component on stray radiation characteristics of infrared optical system

  • 摘要: 针对红外光学系统元件表面缺陷问题,基于米氏散射理论定量分析了不同疵病等级光学元件表面散射特性,讨论了光学元件表面双向散射分布函数(BSDF)的变化规律,进而建立光学元件不同疵病等级的散射模型。在此基础上,以双子望远镜系统为例,利用ASAP光学分析软件对其主镜在不同疵病等级的情况下,到达探测器像面上的系统自身热辐射通量及其分布进行了仿真计算,并根据有效发射率的定义,对系统杂散辐射性能进行了定量评价。研究分析发现:光学元件不同疵病等级不仅会造成系统杂散辐射特性及其在探测器像面上的辐射通量分布发生变化,而且还会导致其有效发射率发生变化。对主镜疵病等级分别为0、I-10、I-20、I-30、II和 III的情况,计算得到系统有效发射率分别为2.19%、2.34%、2.46%、2.59%、2.72%和3.08%。由此可见,随着疵病等级的增加,系统杂散辐射性能逐渐降低。实际工作中,必须严格控制光学元件表面疵病等级。
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-05-11
  • 修回日期:  2016-06-12
  • 刊出日期:  2017-01-25

元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响

doi: 10.3788/IRLA201746.0120004
    作者简介:

    游兴海(1990-),男,硕士生,主要从事红外光学系统设计与优化方面的研究。Email:youxinghai_scu@163.com

基金项目:

科技部创新人才推进计划重点领域创新团队资助(2014RA4051);四川省教育厅创新团队计划资助项目(13Td0048)

  • 中图分类号: O434.3

摘要: 针对红外光学系统元件表面缺陷问题,基于米氏散射理论定量分析了不同疵病等级光学元件表面散射特性,讨论了光学元件表面双向散射分布函数(BSDF)的变化规律,进而建立光学元件不同疵病等级的散射模型。在此基础上,以双子望远镜系统为例,利用ASAP光学分析软件对其主镜在不同疵病等级的情况下,到达探测器像面上的系统自身热辐射通量及其分布进行了仿真计算,并根据有效发射率的定义,对系统杂散辐射性能进行了定量评价。研究分析发现:光学元件不同疵病等级不仅会造成系统杂散辐射特性及其在探测器像面上的辐射通量分布发生变化,而且还会导致其有效发射率发生变化。对主镜疵病等级分别为0、I-10、I-20、I-30、II和 III的情况,计算得到系统有效发射率分别为2.19%、2.34%、2.46%、2.59%、2.72%和3.08%。由此可见,随着疵病等级的增加,系统杂散辐射性能逐渐降低。实际工作中,必须严格控制光学元件表面疵病等级。

English Abstract

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