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C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制

吴越 刘家祥 方勇华 张蕾蕾 杨文康

吴越, 刘家祥, 方勇华, 张蕾蕾, 杨文康. C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制[J]. 红外与激光工程, 2019, 48(8): 803001-0803001(7). doi: 10.3788/IRLA201948.0803001
引用本文: 吴越, 刘家祥, 方勇华, 张蕾蕾, 杨文康. C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制[J]. 红外与激光工程, 2019, 48(8): 803001-0803001(7). doi: 10.3788/IRLA201948.0803001
Wu Yue, Liu Jiaxiang, Fang Yonghua, Zhang Leilei, Yang Wenkang. Background radiation analysis and suppression of C-T type planar waveguide infrared spectrometer system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2019, 48(8): 803001-0803001(7). doi: 10.3788/IRLA201948.0803001
Citation: Wu Yue, Liu Jiaxiang, Fang Yonghua, Zhang Leilei, Yang Wenkang. Background radiation analysis and suppression of C-T type planar waveguide infrared spectrometer system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2019, 48(8): 803001-0803001(7). doi: 10.3788/IRLA201948.0803001

C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制

doi: 10.3788/IRLA201948.0803001
详细信息
    作者简介:

    吴越(1992-),男,博士生,主要从事红外光谱仪器方面的研究。Email:wuyue499@163.com

  • 中图分类号: TN214

Background radiation analysis and suppression of C-T type planar waveguide infrared spectrometer system

  • 摘要: 红外光谱仪内部背景辐射在长波红外波段(8~12 m)影响比较显著,会严重降低光学系统的分辨率和信噪比。利用TracePro光学分析软件,对基于交叉非对称Czerny-Turner (C-T)型平板波导红外光谱仪进行了背景辐射分析,包括机械构件表面发射率以及光学元件表面温度对背景辐射的影响。引入了杂光系数作为评价指标,根据仿真分析结果,在高低温箱中,对该红外光谱仪的背景辐射影响采取抑制措施并进行了实验测量,实验结果证明:采取背景辐射抑制措施后,C-T型平板波导光谱仪系统的杂光系数在常温下(298 K)能达到5%以下。
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出版历程
  • 收稿日期:  2019-03-15
  • 修回日期:  2019-04-21
  • 刊出日期:  2019-08-25

C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制

doi: 10.3788/IRLA201948.0803001
    作者简介:

    吴越(1992-),男,博士生,主要从事红外光谱仪器方面的研究。Email:wuyue499@163.com

  • 中图分类号: TN214

摘要: 红外光谱仪内部背景辐射在长波红外波段(8~12 m)影响比较显著,会严重降低光学系统的分辨率和信噪比。利用TracePro光学分析软件,对基于交叉非对称Czerny-Turner (C-T)型平板波导红外光谱仪进行了背景辐射分析,包括机械构件表面发射率以及光学元件表面温度对背景辐射的影响。引入了杂光系数作为评价指标,根据仿真分析结果,在高低温箱中,对该红外光谱仪的背景辐射影响采取抑制措施并进行了实验测量,实验结果证明:采取背景辐射抑制措施后,C-T型平板波导光谱仪系统的杂光系数在常温下(298 K)能达到5%以下。

English Abstract

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