ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用

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ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用

韩冰, 陈忻, 饶鹏, 林长青, 孙胜利, 李璐芳

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韩冰, 陈忻, 饶鹏, 林长青, 孙胜利, 李璐芳. ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(6): 1733-1738.

引用本文:

韩冰, 陈忻, 饶鹏, 林长青, 孙胜利, 李璐芳. ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(6): 1733-1738.

Han Bing, Chen Xin, Rao Peng, Lin Changqing, Sun Shengli, Li Lufang. Applications of ASIC in the long array column of infrared TDI detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(6): 1733-1738.

Citation:

Han Bing, Chen Xin, Rao Peng, Lin Changqing, Sun Shengli, Li Lufang. Applications of ASIC in the long array column of infrared TDI detector[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(6): 1733-1738.

ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用

韩冰^1,2,
陈忻^1,2,
饶鹏^1,2, ,,
林长青^1,2,
孙胜利^1,2,
李璐芳^1,2

1.
中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083;
2.
中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海 200083

作者简介:
韩冰(1987-),男,工程师,硕士,主要从事电子学系统和信号处理研究。Email:hanbing_message@sina.com

通讯作者: 饶鹏(1977-),男,研究员,硕士生导师,研究方向为空间遥感。Email:raopeng@mail.sitp.ac.cn

中图分类号: TN21

Applications of ASIC in the long array column of infrared TDI detector

Han Bing^1,2,
Chen Xin^1,2,
Rao Peng^{1,2
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Lin Changqing^1,2,
Sun Shengli^1,2,
Li Lufang^1,2

1.
Shanghai Institute of Technical Physics of Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;
2.
Key Laboratory of Infrared System Detection and Imaging Technology,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China

摘要: 针对长线列红外时间延迟积分(TDI, Time Delay Intergration)探测系统面临通道多、噪声大、体积大、质量重、功耗大等问题,提出了利用专用集成电路(ASIC, Application Specific Integrated Circuit)方法解决长线列红外TDI探测读出电路中面临的问题。通过实现由一款全定制ASIC芯片(8路红外信号调理芯片)和红外TDI探测器构建的红外探测扫描成像系统验证ASIC芯片可以解决长线列红外TDI探测系统中所面临的上述问题,整个系统噪声为1.42 mV,功耗为0.72 W。实现了读出电路的高集成化,减少设计复杂度和工作量,为微型化、小型化航天遥感卫星研发提供技术支持和实践基础。
- AISC /
- 长线列TDI探测器 /
- 扫描成像系统
Abstract: There always exist some challenges in long array column infrared Time Delay Integration(TDI) detecting system, such as large number of channels, high noise and power dissipation. To solve those problems mentioned above, a new solution was proposed to improve the performance of infrared TDI detecting system with Application Specific Integrated Circuit(ASIC) chip(eight-channel signal conditioning chip). Meanwhile, it helped to light the weight and reduce the system volume. In the system, the noise and dissipation both reduced to half than before. The average noise of system was 1.42 mV with power of 0.73 W. More higher integration was achieved by Readout Integrated Circuit(ROIC), design complexity and workload were reduced. It provides technical support and practical foundation for micro miniaturization aerospace remote sensing satellite development.
- ASIC /
- long array column TDI /
- scanning imaging system

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ASIC 技术在长线列TDI 红外探测器中的应用

1. 中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083;

2. 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海 200083

作者简介:
韩冰(1987-),男,工程师,硕士,主要从事电子学系统和信号处理研究。Email:hanbing_message@sina.com

通讯作者: 饶鹏(1977-),男,研究员,硕士生导师,研究方向为空间遥感。Email:raopeng@mail.sitp.ac.cn

收稿日期: 2014-10-07
修回日期: 2014-11-17
刊出日期: 2015-06-25

中图分类号: TN21

关键词:

摘要: 针对长线列红外时间延迟积分(TDI, Time Delay Intergration)探测系统面临通道多、噪声大、体积大、质量重、功耗大等问题,提出了利用专用集成电路(ASIC, Application Specific Integrated Circuit)方法解决长线列红外TDI探测读出电路中面临的问题。通过实现由一款全定制ASIC芯片(8路红外信号调理芯片)和红外TDI探测器构建的红外探测扫描成像系统验证ASIC芯片可以解决长线列红外TDI探测系统中所面临的上述问题,整个系统噪声为1.42 mV,功耗为0.72 W。实现了读出电路的高集成化,减少设计复杂度和工作量,为微型化、小型化航天遥感卫星研发提供技术支持和实践基础。

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