采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统

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采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统

郝宏刚, 周翱, 饶敏, 阮巍

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郝宏刚, 周翱, 饶敏, 阮巍. 采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(10): 2842-2845.

引用本文:

郝宏刚, 周翱, 饶敏, 阮巍. 采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(10): 2842-2845.

Hao Honggang, Zhou Ao, Rao Min, Ruan Wei. System for absorption uniformity measurement of optical thin films based on photothermal detuning technique[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(10): 2842-2845.

Citation:

Hao Honggang, Zhou Ao, Rao Min, Ruan Wei. System for absorption uniformity measurement of optical thin films based on photothermal detuning technique[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(10): 2842-2845.

采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统

郝宏刚^1,2,
周翱¹,
饶敏¹,
阮巍¹

1.
重庆邮电大学光电工程学院,重庆 400065;
2.
重庆高校光纤通信技术重点实验室,重庆 400065

基金项目:

国家自然科学基金项目（60907041，61205149）

作者简介:
郝宏刚（1977- ），男，副教授，博士，主要从事光学测量等方面的研究。Email：haohg@cqupt.edu.cn

中图分类号: O484.4

System for absorption uniformity measurement of optical thin films based on photothermal detuning technique

1.
College of Optoelectronic Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,China;
2.
Key Laboratory of Optical Fiber Communication Technology,Chongqing Education Commission,Chongqing 400065,China

摘要: 由于大口径光学薄膜的应用越来越广泛，其吸收损耗的均匀性测量越来越重要。文中首次根据光热失调技术的基本原理，使用Visual Basic 6.0 编写控制程序，搭建一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统，实现了样品表面各点光热信号的自动采集与处理，并根据测量结果绘制出用于相对吸收均匀性研究的图像。结果表明该实验系统实现了自动控制，运行稳定、测量准确，能够用于光学薄膜相对吸收均匀性的分析。该系统的建立为光热失调技术的进一步应用提供了实验基础。
- 光学薄膜 /
- 吸收 /
- 均匀性 /
- 光热失调技术
Abstract: The uniformity of optical thin films has become quite vital because large diameter optical devices are used widely. In this paper, according to the basic theory of photothermal detuning technique, with Visual Basic 6.0 to write control program, the experiment system for measuring the absorption uniformity of optical films was designed and built for the first time. Absorptions at the different points on the sample surface were measured, and the surface absorption image of the sample was made. The result shows that the designed experimental system which is stable and accurate can be used to absorption uniformity measurement of optical thin films, and the automated measurement in the whole system is achieved. The designed system which provides experimental foundation for the advancing application of the photothermal detuning technique is feasible.
- optical thin film /
- absorption /
- uniformity /
- photothermal detuning technique

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采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统

1. 重庆邮电大学光电工程学院,重庆 400065;

2. 重庆高校光纤通信技术重点实验室,重庆 400065

作者简介:
郝宏刚（1977- ），男，副教授，博士，主要从事光学测量等方面的研究。Email：haohg@cqupt.edu.cn

收稿日期: 2013-02-07
修回日期: 2013-03-15
刊出日期: 2013-10-25

基金项目:

国家自然科学基金项目（60907041，61205149）

中图分类号: O484.4

关键词:

摘要: 由于大口径光学薄膜的应用越来越广泛，其吸收损耗的均匀性测量越来越重要。文中首次根据光热失调技术的基本原理，使用Visual Basic 6.0 编写控制程序，搭建一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统，实现了样品表面各点光热信号的自动采集与处理，并根据测量结果绘制出用于相对吸收均匀性研究的图像。结果表明该实验系统实现了自动控制，运行稳定、测量准确，能够用于光学薄膜相对吸收均匀性的分析。该系统的建立为光热失调技术的进一步应用提供了实验基础。

English Abstract

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