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熔石英亚表面杂质对激光损伤概率的影响

高翔 邱荣 周国瑞 姚科 蒋勇 周强

高翔, 邱荣, 周国瑞, 姚科, 蒋勇, 周强. 熔石英亚表面杂质对激光损伤概率的影响[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(4): 406002-0406002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0406002
引用本文: 高翔, 邱荣, 周国瑞, 姚科, 蒋勇, 周强. 熔石英亚表面杂质对激光损伤概率的影响[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(4): 406002-0406002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0406002
Gao Xiang, Qiu Rong, Zhou Guorui, Yao Ke, Jiang Yong, Zhou Qiang. Effect of subsurface impurities of fused silica on laser induced damage probability[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(4): 406002-0406002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0406002
Citation: Gao Xiang, Qiu Rong, Zhou Guorui, Yao Ke, Jiang Yong, Zhou Qiang. Effect of subsurface impurities of fused silica on laser induced damage probability[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(4): 406002-0406002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0406002

熔石英亚表面杂质对激光损伤概率的影响

doi: 10.3788/IRLA201746.0406002
基金项目: 

国家自然科学基金青年基金(61505170,61505171);国家自然科学基金联合基金(U1530109)

详细信息
    作者简介:

    高翔(1985-),男,讲师,博士,从事高功率激光损伤问题方面的研究。Email:gaoxiang6969@163.com

  • 中图分类号: O437

Effect of subsurface impurities of fused silica on laser induced damage probability

  • 摘要: 基于Mie理论和热传导方程,结合ICP-OES对熔石英亚表面杂质粒子的主要成分测量,建立了计算吸收性杂质粒子诱导熔石英光学元件表面损伤概率的模型。通过该模型理论研究了不同种类的杂质粒子诱导损伤所需的临界能量密度随粒子尺寸的变化,以及不同尺寸分布的杂质粒子诱导熔石英表面的损伤概率。通过损伤实验测试获得了不同光斑尺寸的355 nm激光辐照作用下熔石英表面的损伤概率,与理论计算结果进行对比,在相同粒子分布参数下,分析了三种杂质粒子对损伤概率的贡献(Cu Al CeO2)。通过该模型能够分析光学基底或薄膜亚表面中不同潜在的杂质吸收性粒子对光学元件损伤概率的影响。
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-08-06
  • 修回日期:  2016-09-07
  • 刊出日期:  2017-04-25

熔石英亚表面杂质对激光损伤概率的影响

doi: 10.3788/IRLA201746.0406002
    作者简介:

    高翔(1985-),男,讲师,博士,从事高功率激光损伤问题方面的研究。Email:gaoxiang6969@163.com

基金项目:

国家自然科学基金青年基金(61505170,61505171);国家自然科学基金联合基金(U1530109)

  • 中图分类号: O437

摘要: 基于Mie理论和热传导方程,结合ICP-OES对熔石英亚表面杂质粒子的主要成分测量,建立了计算吸收性杂质粒子诱导熔石英光学元件表面损伤概率的模型。通过该模型理论研究了不同种类的杂质粒子诱导损伤所需的临界能量密度随粒子尺寸的变化,以及不同尺寸分布的杂质粒子诱导熔石英表面的损伤概率。通过损伤实验测试获得了不同光斑尺寸的355 nm激光辐照作用下熔石英表面的损伤概率,与理论计算结果进行对比,在相同粒子分布参数下,分析了三种杂质粒子对损伤概率的贡献(Cu Al CeO2)。通过该模型能够分析光学基底或薄膜亚表面中不同潜在的杂质吸收性粒子对光学元件损伤概率的影响。

English Abstract

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