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光电编码器动态误差评估系统

周子云 于海

周子云, 于海. 光电编码器动态误差评估系统[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 617002-0617002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0617002
引用本文: 周子云, 于海. 光电编码器动态误差评估系统[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 617002-0617002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0617002
Zhou Ziyun, Yu Hai. Estimation system for dynamic errors of photoelectric encoder[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 617002-0617002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0617002
Citation: Zhou Ziyun, Yu Hai. Estimation system for dynamic errors of photoelectric encoder[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 617002-0617002(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0617002

光电编码器动态误差评估系统

doi: 10.3788/IRLA201746.0617002
基金项目: 

国家自然科学基金(51605465)

详细信息
    作者简介:

    周子云(1987-),女,讲师,博士,主要从事光机结构设计及光电设备检测技术方面的研究。Email:zhouziyun719@163.com

    通讯作者: 于海(1987-),男,助理研究员,博士,主要从事光电位移精密测量方面的研究。Email:yuhai5158@163.com
  • 中图分类号: TP274+.2

Estimation system for dynamic errors of photoelectric encoder

  • 摘要: 在批量生产小型光电编码器的过程中,出厂检验不仅要对光电编码器动态误差进行检测,也要对不达标编码器进行误差溯源及修正。在实现对光电编码器高、低转速下的动态误差检测的同时,需要快速的定位光电编码器动态误差超标的原因,使生产者能够根据误差超标原因对编码器进行调校。为此,提出了光电编码器检测方法及评估方法,设计了小型光电编码器动态误差检测及评估系统。首先,从低、中、高频率方面对光电编码器误差组成分析,明确了各频率误差的产生原因;然后,提出了采用AR模型谱估计法对动态误差进行评估的方法,并根据误差评估结果给出误差产生因素判定;最后,设计了小型光电编码器动态误差评估系统,实现了对光电编码器的动态误差检测,并给出误差评估结果。所设计的检测系统工作转速范围为0.5~8 r/s,检测精度优于2;误差评估系统能够清晰的显示出动态误差在各频率下的均方值,使生产者能够轻易地找到不达标编码器的调校方法。该系统准确可靠、显示直观,为批量生产光电编码器提供了简单有效的检测评估手段
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-10-05
  • 修回日期:  2016-11-15
  • 刊出日期:  2017-06-25

光电编码器动态误差评估系统

doi: 10.3788/IRLA201746.0617002
    作者简介:

    周子云(1987-),女,讲师,博士,主要从事光机结构设计及光电设备检测技术方面的研究。Email:zhouziyun719@163.com

    通讯作者: 于海(1987-),男,助理研究员,博士,主要从事光电位移精密测量方面的研究。Email:yuhai5158@163.com
基金项目:

国家自然科学基金(51605465)

  • 中图分类号: TP274+.2

摘要: 在批量生产小型光电编码器的过程中,出厂检验不仅要对光电编码器动态误差进行检测,也要对不达标编码器进行误差溯源及修正。在实现对光电编码器高、低转速下的动态误差检测的同时,需要快速的定位光电编码器动态误差超标的原因,使生产者能够根据误差超标原因对编码器进行调校。为此,提出了光电编码器检测方法及评估方法,设计了小型光电编码器动态误差检测及评估系统。首先,从低、中、高频率方面对光电编码器误差组成分析,明确了各频率误差的产生原因;然后,提出了采用AR模型谱估计法对动态误差进行评估的方法,并根据误差评估结果给出误差产生因素判定;最后,设计了小型光电编码器动态误差评估系统,实现了对光电编码器的动态误差检测,并给出误差评估结果。所设计的检测系统工作转速范围为0.5~8 r/s,检测精度优于2;误差评估系统能够清晰的显示出动态误差在各频率下的均方值,使生产者能够轻易地找到不达标编码器的调校方法。该系统准确可靠、显示直观,为批量生产光电编码器提供了简单有效的检测评估手段

English Abstract

参考文献 (15)

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