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热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定

元月 宇慧平 秦飞 安彤 陈沛

元月, 宇慧平, 秦飞, 安彤, 陈沛. 热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(9): 917004-0917004(5). doi: 10.3788/IRLA201746.0917004
引用本文: 元月, 宇慧平, 秦飞, 安彤, 陈沛. 热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(9): 917004-0917004(5). doi: 10.3788/IRLA201746.0917004
Yuan Yue, Yu Huiping, Qin Fei, An Tong, Chen Pei. Surface emissivity and the environment transmittance calibration for QFN package with thermal imager[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(9): 917004-0917004(5). doi: 10.3788/IRLA201746.0917004
Citation: Yuan Yue, Yu Huiping, Qin Fei, An Tong, Chen Pei. Surface emissivity and the environment transmittance calibration for QFN package with thermal imager[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(9): 917004-0917004(5). doi: 10.3788/IRLA201746.0917004

热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定

doi: 10.3788/IRLA201746.0917004
基金项目: 

国家自然科学基金(11272018)

详细信息
    作者简介:

    元月(1991-),女,硕士生,主要从事先进电子封装技术与可靠性方面的研究。Email:jhc_yy@sina.cn

  • 中图分类号: TN219

Surface emissivity and the environment transmittance calibration for QFN package with thermal imager

  • 摘要: 使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200℃进行了塑封料面、铜面和缝表面发射率的标定,并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明:直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定,直接计算法可以应用在缝处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右;缝处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化;铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及缝处对空气透射率标定值在100%左右,上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-01-05
  • 修回日期:  2017-02-03
  • 刊出日期:  2017-09-25

热像仪对QFN封装表面发射率环境透射率的标定

doi: 10.3788/IRLA201746.0917004
    作者简介:

    元月(1991-),女,硕士生,主要从事先进电子封装技术与可靠性方面的研究。Email:jhc_yy@sina.cn

基金项目:

国家自然科学基金(11272018)

  • 中图分类号: TN219

摘要: 使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200℃进行了塑封料面、铜面和缝表面发射率的标定,并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明:直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定,直接计算法可以应用在缝处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右;缝处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化;铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及缝处对空气透射率标定值在100%左右,上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。

English Abstract

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