用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片

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用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片

侯治锦, 傅莉, 鲁正雄, 司俊杰, 王巍, 吕衍秋

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侯治锦, 傅莉, 鲁正雄, 司俊杰, 王巍, 吕衍秋. 用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片[J]. 红外与激光工程, 2018, 47(7): 720003-0720003(7). doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

引用本文:

侯治锦, 傅莉, 鲁正雄, 司俊杰, 王巍, 吕衍秋. 用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片[J]. 红外与激光工程, 2018, 47(7): 720003-0720003(7). doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

Hou Zhijin, Fu Li, Lu Zhengxiong, Si Junjie, Wang Wei, Lv Yanqiu. Novel optical filter to identify the connected defective elements in focal plane array[J]. Infrared and Laser Engineering, 2018, 47(7): 720003-0720003(7). doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

Citation:

Hou Zhijin, Fu Li, Lu Zhengxiong, Si Junjie, Wang Wei, Lv Yanqiu. Novel optical filter to identify the connected defective elements in focal plane array[J]. Infrared and Laser Engineering, 2018, 47(7): 720003-0720003(7). doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片

doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

侯治锦^1,2,3,
傅莉¹,
鲁正雄^2,3,
司俊杰^2,3,
王巍^2,3,
吕衍秋^2,3

1.
西北工业大学电子信息学院,陕西西安 710072;
2.
中国空空导弹研究院,河南洛阳 471099;
3.
红外探测器技术航空科技重点实验室,河南洛阳 471099

基金项目:

航空创新基金（2011D01406）

作者简介:
侯治锦(1982-),男,博士生,主要从事红外焦平面探测器及微光学元件研究。Email:changhui090504@126.com

中图分类号: TN215

Novel optical filter to identify the connected defective elements in focal plane array

Hou Zhijin^1,2,3,
Fu Li¹,
Lu Zhengxiong^2,3,
Si Junjie^2,3,
Wang Wei^2,3,
Lv Yanqiu^2,3

1.
School of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical University,Xi'an 710072,China;
2.
Luoyang Optoelectro Technology Development Center,Luoyang 471099,China;
3.
Aviation Key Laboratory of Science and Technology on Infrared Detector,Luoyang 471099,China

摘要: 相连缺陷元识别一直是面阵探测器研究难点。面阵探测器相连缺陷元的光电信号与正常元基本相同，因此采用现有面阵测试方法无法识别相连缺陷元。提出了一种新型光学滤光片来识别面阵探测器中的相连缺陷元。在提出的滤光片结构中，有两种不同透光率、且交错排列的阵列组成。采用该滤光片后，相连缺陷元的响应电压值是正常单元响应电压的50%，面阵探测器相连缺陷元可以被显著识别。
- 面阵探测器 /
- 滤光片 /
- 相连缺陷元 /
- 识别
Abstract: The connected defective elements identifications has always been the research difficulty of focal plane array (FPA) detector. It is difficult to identify connected defective elements by FPA test-bench because the response voltage of connected defective elements is basically the same as that of normal elements. Novel optical filter for connected defective elements identifications was proposed. The presented filter had sorted elements of FPA detector into two kinds of detection units. The two kinds of detection units were designed in pairs and staggered arrangement closed to each other. The response voltage of the connected defective elements was 50% of that of normal elements. The connected defective elements were identified markedly by using the proposed filter.
- FPA /
- filter /
- connected defective elements /
- identification

[1]	Lei W, Antoszewski J, Faraone L. Progress, challenges, and opportunities for HgCdTe infrared materials and detectors[J]. Appl Phys Rev, 2015, 2:041303.
[2]	Rogalski A, Antoszewski J, Faraone L, Third-generation infrared photodetector arrays[J]. J Appl Phys, 2009, 105:091101.
[3]	Qiu W, Hu W. Laser beam induced current microscopy and photocurrent mapping for junction characterization of infrared photodetectors[J]. Science China-Physics Mechanics Astronomy, 2015, 58(2):027001.
[4]	Meng Qingduan, Zhang Xiaoling, Lv Yanqiu, et al. Local delamination of InSb IRFPAs in liquid nitrogen shock tests,[J]. Infrared Physics Technology, 2017, 86:207-211.
[5]	Sun C H, Zhang P, Zhang T N, et al. ZnS thin films grown by atomic layer deposition on GaAs and HgCdTe substrates at very low temperature[J]. Infrared Physics Technology, 2017, 85:280-286.
[6]	Qiu W, Hu W, Lin C, et al. Surface leakage current in 12.5m long-wavelength HgCdTe infrared photodiode arrays[J]. Optics Letters, 2016, 41:828-831.
[7]	Bowden N, Brittain S, Evans A G, et al. Spontaneous formation of ordered structures in thin films of metals supported on an elastomeric polymer[J]. Nature, 1998, 393(14):146-149.
[8]	Zhang Xiaoling, Meng Qingduan, Zhang Liwen, et al. Negative electrode structure design in InSb focal plane arrays detector for deformation reduction[J]. Journal of Mechanical Science and Technology, 2014, 28(6):2281-2285.
[9]	Wang Wei, Fan Yanyu, Si Junjie, et al. Analysis on formation of bad pixel cluster in IRFPA[J]. Infrared and Laser Engineering, 2012, 41(11):2857-2860.
[10]	Wang Wei, Fan Yanyu, Si Junjie, et al. Types and determination of bad pixels in IRFPA[J]. Infrared and Laser Engineering, 2012, 41(9):2261-2264.
[11]	Chris Littler. Characterization of impurities and defects in InSb and HgCdTe using novel magneto-optical techniques[C]//SPIE, 1993, 2021:184-201.
[12]	Mike Davis, Mark Greiner. Indium antimonide large-format detector arrays[J]. Optical Engineering, 2011, 50(6):061016.
[13]	Rawe R, Martin C, Garter M, et al. Novel high fill-factor, small pitch, reticulated InSb IR FPA design[C]//SPIE, 2005, 5783:899-906.
[14]	Hou Zhijin, Fu Li, Wang Wei, et al. Study on connected defective elements in focal plane array identification by response and crosstalk[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(4):0420001. (in Chinese)

[1]	纪恺祎, 邢裕杰, 钮信尚, 何春伶, 顿雄, 程鑫彬. 宽波段光谱成像系统杂散光分析及抑制 . 红外与激光工程, 2023, 52(5): 20220645-1-20220645-9. doi: 10.3788/IRLA20220645
[2]	王润福, 王多书, 范栋, 李晨, 王济洲, 董茂进. 短中波红外长线阵拼接集成滤光片技术研究 . 红外与激光工程, 2022, 51(6): 20210463-1-20210463-8. doi: 10.3788/IRLA20210463
[3]	耿蕊, 赵康, 陈青山. 红外量子点材料的远距离识别 . 红外与激光工程, 2021, 50(7): 20200436-1-20200436-8. doi: 10.3788/IRLA20200436
[4]	杜建祥, 宗肖颖, 罗世魁, 高超. 多谱段滤光片平面波透射波前仿真测试方法 . 红外与激光工程, 2021, 50(9): 20200528-1-20200528-6. doi: 10.3788/IRLA20200528
[5]	曹杰, 郝群, 张芳华, 徐辰宇, 程阳, 张佳利, 陶禹, 周栋, 张开宇. APD三维成像激光雷达研究进展 . 红外与激光工程, 2020, 49(9): 20190549-1-20190549-10. doi: 10.3788/IRLA20190549
[6]	熊志航, 廖然, 曾亚光, 刘晋, 马辉. 利用偏振成像在复杂现场快速识别金属碎屑（特约） . 红外与激光工程, 2020, 49(6): 20201012-1-20201012-6. doi: 10.3788/IRLA20201012
[7]	尚鹏, 熊津平, 季一勤, 刘华松, 刘丹丹, 庄克文, 刘旭, 沈伟东. 多金属层诱导透射紫外“日盲”探测成像滤光片设计与低温制备研究 . 红外与激光工程, 2018, 47(9): 920002-0920002(7). doi: 10.3788/IRLA201847.0920002
[8]	周木春, 赵琦, 陈延如, 邵艳明. 基于FSVM的转炉终点光辐射状态识别 . 红外与激光工程, 2018, 47(7): 726004-0726004(6). doi: 10.3788/IRLA201847.0726004
[9]	侯治锦, 傅莉, 王巍, 吕衍秋, 鲁正雄, 王锦春. 用响应和串音识别焦平面探测器相连缺陷元研究 . 红外与激光工程, 2017, 46(4): 420002-0420002(5). doi: 10.3788/IRLA201746.0420002
[10]	崔珊珊, 裘桢炜, 洪津, 孟炳寰, 杨伟锋. 利用单通道预滤光片提高彩色相机显色能力的方法 . 红外与激光工程, 2016, 45(8): 824004-0824004(6). doi: 10.3788/IRLA201645.0824004
[11]	郑光威, 郑秋容, 楚兴春. 基于截止滤光片的光束空间低通滤波技术研究 . 红外与激光工程, 2016, 45(S1): 60-64. doi: 10.3788/IRLA201645.S106004
[12]	庄绪霞, 阮宁娟, 赵思思. 基于点目标测量的空间目标特性识别技术 . 红外与激光工程, 2016, 45(S1): 194-199. doi: 10.3788/IRLA201645.S126001
[13]	于洋, 王世勇, 蹇毅, 陈珺, 代具亭. 面阵探测器连续扫描成像光学系统 . 红外与激光工程, 2016, 45(1): 118002-0118002(5). doi: 10.3788/IRLA201645.0118002
[14]	陈一超, 胡文刚, 武东生, 何永强, 李晓明. 三波段真彩色夜视光谱匹配技术 . 红外与激光工程, 2015, 44(12): 3837-3842.
[15]	王中任, 路清彦, 刘海生. 基于CAD模型的随机工件视觉识别和定位方法 . 红外与激光工程, 2015, 44(S1): 230-235.
[16]	陈青山, 牛春晖, 吕勇, 徐岱, 魏元. 对镱铒共掺硫氧化钇红外上转换材料的远场探测与识别 . 红外与激光工程, 2015, 44(9): 2603-2608.
[17]	徐世伟, 魏东, 王大鹏, 刘万成. 红外线阵探测器盲元定位与补偿 . 红外与激光工程, 2014, 43(11): 3621-3626.
[18]	张佩杰, 宋克非. 极光成像仪滤光片高精度温度控制系统设计 . 红外与激光工程, 2014, 43(S1): 177-182.
[19]	潘永强, 白涛, 杭凌侠. 太阳模拟器AM0型滤光片及其稳定性研究 . 红外与激光工程, 2013, 42(5): 1306-1310.
[20]	付秀华, 唐昊龙, 刘国军, 刘凤娥, 张静. 高速电光调制器波导测试系统滤光片的研制 . 红外与激光工程, 2013, 42(12): 3379-3385.

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用于识别面阵探测器相连缺陷元的新型光学滤光片

doi: 10.3788/IRLA201847.0720003

1. 西北工业大学电子信息学院,陕西西安 710072;

2. 中国空空导弹研究院,河南洛阳 471099;

3. 红外探测器技术航空科技重点实验室,河南洛阳 471099

作者简介:
侯治锦(1982-),男,博士生,主要从事红外焦平面探测器及微光学元件研究。Email:changhui090504@126.com

收稿日期: 2018-02-12
修回日期: 2018-03-15
刊出日期: 2018-07-25

基金项目:

航空创新基金（2011D01406）

中图分类号: TN215

关键词:

摘要: 相连缺陷元识别一直是面阵探测器研究难点。面阵探测器相连缺陷元的光电信号与正常元基本相同，因此采用现有面阵测试方法无法识别相连缺陷元。提出了一种新型光学滤光片来识别面阵探测器中的相连缺陷元。在提出的滤光片结构中，有两种不同透光率、且交错排列的阵列组成。采用该滤光片后，相连缺陷元的响应电压值是正常单元响应电压的50%，面阵探测器相连缺陷元可以被显著识别。

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