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光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析

张璐 张磊 林国画

张璐, 张磊, 林国画. 光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析[J]. 红外与激光工程, 2020, 49(S1): 20200113. doi: 10.3788/IRLA20200113
引用本文: 张璐, 张磊, 林国画. 光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析[J]. 红外与激光工程, 2020, 49(S1): 20200113. doi: 10.3788/IRLA20200113
Zhang Lu, Zhang Lei, Lin Guohua. Simulation analysis of Dewar optical characteristics influenced by surface defects on optical elements[J]. Infrared and Laser Engineering, 2020, 49(S1): 20200113. doi: 10.3788/IRLA20200113
Citation: Zhang Lu, Zhang Lei, Lin Guohua. Simulation analysis of Dewar optical characteristics influenced by surface defects on optical elements[J]. Infrared and Laser Engineering, 2020, 49(S1): 20200113. doi: 10.3788/IRLA20200113

光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析

doi: 10.3788/IRLA20200113
详细信息
    作者简介:

    张璐(1995-),女,助理工程师,硕士生,主要从事光学设计仿真方面的研究。Email:luzbit@163.com

  • 中图分类号: O434.3

Simulation analysis of Dewar optical characteristics influenced by surface defects on optical elements

  • 摘要: 红外探测器光学元件表面疵病、污染可能会降低系统的探测性能。杜瓦中窗片、滤光片表面存在不同程度的麻点、划痕,采用光学仿真软件LightTools计算分析光学元件表面不同疵病等级情况下的光学参数,引入杂散辐射系数和信杂比的概念对杜瓦光学特性进行评估,合理判断光学元件的表面疵病容限。同时仿真分析滤光片位置造成的表面疵病对杜瓦光学特性的影响。结果表明:随着窗片、滤光片表面疵病等级增加,接收像面非均匀性增加、信号强度减弱,且在相同疵病等级情况下,滤光片与芯片距离越近,疵病对杜瓦光学特性影响越大,因此在杜瓦设计时必须严格控制光学元件表面疵病容限,并合理设置滤光片封装位置。
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出版历程
  • 收稿日期:  2020-05-11
  • 修回日期:  2020-06-21
  • 刊出日期:  2020-09-22

光学元件表面疵病影响杜瓦光学特性的仿真分析

doi: 10.3788/IRLA20200113
    作者简介:

    张璐(1995-),女,助理工程师,硕士生,主要从事光学设计仿真方面的研究。Email:luzbit@163.com

  • 中图分类号: O434.3

摘要: 红外探测器光学元件表面疵病、污染可能会降低系统的探测性能。杜瓦中窗片、滤光片表面存在不同程度的麻点、划痕,采用光学仿真软件LightTools计算分析光学元件表面不同疵病等级情况下的光学参数,引入杂散辐射系数和信杂比的概念对杜瓦光学特性进行评估,合理判断光学元件的表面疵病容限。同时仿真分析滤光片位置造成的表面疵病对杜瓦光学特性的影响。结果表明:随着窗片、滤光片表面疵病等级增加,接收像面非均匀性增加、信号强度减弱,且在相同疵病等级情况下,滤光片与芯片距离越近,疵病对杜瓦光学特性影响越大,因此在杜瓦设计时必须严格控制光学元件表面疵病容限,并合理设置滤光片封装位置。

English Abstract

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