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光学三维测量技术以其非接触、测量速度快、无损性等优点在工业检测、生物医学、和虚拟现实等领域被广泛应用[1-3]。根据被测物体表面的反射性质不同,光学三维测量技术的研究对象主要分为漫反射和镜面反射表面。基于结构光投影的条纹投影轮廓术[4]和基于结构光反射的相位测量偏折术[5-6]因其全场获取、数据处理自动化和测量精度高等优点而被广泛研究和应用。其中,前者主要测量漫反射表面,后者主要实现镜面物体的测量。随着先进制造技术的发展,零件的复杂性和多样性越来越明显,航空航天和先进制造中存在许多漫反射和镜面反射表面同时存在的复合反射表面。在不改变被测物体表面反射性质的条件下,以上前两种测量方法需分别测量漫反射和镜面部分,而无法满足快速测量复合表面的要求,同时需要两套单独形貌测量系统,集成性和灵活性较差。因此,急需研究一种针对复合表面测量的新方法,快速获取其三维形貌数据。
在对复合表面测量的研究中,Sandner[7]利用两个相机、一个投影仪和一个显示屏搭建了一套组合测量系统。首先,利用投影仪和两个相机构成的条纹投影测量系统获得物体的高度信息,并为由一个相机和显示屏构成的相位偏折测量系统提供计算梯度和高度信息。Huang等人[8]研究分析了条纹投影技术与条纹反射技术在测量既非完全漫反射表面也非完全镜面反射表面时的灵敏度和精度,同时,将条纹投影法测得的高度用于计算条纹反射法积分的斜率来恢复被测物体的形貌。易京亚[9]将条纹投影和条纹反射术相结合,充分发挥条纹投影对高度变化的敏感性优势和条纹反射对梯度变化的敏感性优势,提出了一种复合迭代算法实现了低反射率手机壳面形的重建和缺陷检测。以上三种测量方法通过梯度积分计算镜面部分的三维形貌,仅适于测量一些连续和表面梯度较小的复合反射表面。另外,投影仪投射条纹和显示屏显示条纹图的颜色相同,需要投影仪和显示屏分时工作,测量效率低。
文中提出了一种基于结构光的复合表面形貌测量新方法。该方法建立了相位与深度之间的直接关系,且利用投影仪投射一种颜色的条纹到物体表面,被漫反射部分反射变形;同时,通过另外一种颜色通道显示于显示屏的条纹被物体镜面部分反射变形。两种变形条纹被彩色相机的两个颜色通道同时获取,不仅提高了测量效率,而且能够实现非连续复合表面的形貌重建。
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基于结构光投影和反射的复合表面测量系统主要由投影仪、彩色相机、LCD显示屏、计算机和水平移动台组成,如图5所示。投影仪采用的是TI公司生产的DLP® LightCrafter™ 4 500,分辨率为1 140×912。相机型号为SVCam-ECO445彩色相机,分辨率为964×1 296,点距3.75 μm×3.75 μm。LCD为夏普生产的LQ101R1JX02,分辨率为1 600×2 560,单位像素尺寸为0.084 75 mm。水平移动台采用的是大恒光电的GCD203100M,精度为1 μm。复合标定板上的圆心距为15 mm。
首先利用张正友[12]的相机标定法标定相机内参,然后利用相机内参进行系统标定和对图像进行畸变等处理。在标定系统参数
${a_i}(u,v)$ 和测量被测物体时,为减小系统非线性对测量结果的影响,投影仪和显示屏分别投射和显示符合八步相移和最佳三条纹[13]选择法的序列条纹。由于对于复合反射物体的镜面表面,相机采集的是LCD显示条纹图经被测物体反射成的像,而对于漫反射表面,相机则直接采集被测物体漫反射表面的变形条纹。因此,显示屏显示的条纹序列为[36 35 30],投影仪投射的序列为[100 99 90]的序列条纹图。 -
文中通过在显示屏上显示圆环标识的方法来精确调节LCD与导轨垂直。固定有LCD的水平移动台实际移动20 mm,求得LCD在位置1和位置2的空间距离如图6所示,平均值为20.006 7 mm。水平移动台的移动向量为[−0.025 9 −0.050 2 20.007 1],证明LCD与水平移动台基本垂直。因此Δd=20 mm。然而,硬件调节的方法不能确保LCD显示屏的法向量与导轨的移动方向百分之百垂直,为提高测量标定精度,显示屏在两个位置的平行正对关系可以通过软件进行校正[14]。
根据2.2节所述方法调节标定板在参考根据2.2节所述方法调节标定板在参考位置与LCD平行。文中通过在显示屏上显示半径和圆心距已知的圆环标识来提供世界坐标。通过椭圆中心拟合提取圆心中心对应的像素坐标,然后利用张正友相机标定法计算LCD像的相机外参。同理,可以求得参考平面的相机外参,进而利用公式(7)求得真实LCD的外参。最终得到LCD、LCD'与参考平面镜的旋转矩阵和欧拉角如表1所示,三者之间的俯仰角之差最大为0.003 7°,旋转角之差最大为0.002°,偏航角之差最大为0.004 6°,满足测量要求。最终求得d=138.394 mm。
Projects LCD' Reference plane Real LCD Rotation martix [0.000 5 0.863 6 −0.504 1 1.000 0 −0.001 1 −0.000 8 −0.001 2
−0.504 1 −0.863 6][0.000 4 0.863 6 −0.504 1 1.000 0 −0.001 0 −0.000 8 −0.0012
−0.504 1 −0.863 6][0.000 5 0.863 6 −0.504 1 1.000 0 −0.001 1 −0.000 9 −0.001 3
−0.504 1 −0.863 6]Translation vector/mm [−31.270 2 31.069 4 405.790 2] [−15.084 2 −23.470 9 236.086 7] −−−− Pitching angle /(°) −0.070 6 −0.070 1 −0.073 8 Rotation angle /(°) 30.273 9 30.273 8 30.273 7 Yaw angle /(°) −89.970 7 −89.975 3 −89.972 6 Table 1. Rotation matrix and corresponding Euler angle of real LCD, LCD' and reference plane
为验证标定精度,将镜面、漫反射复合标定平板置于精度为1 μm的水平移动台,控制平板在标定场精确移动3 mm作为真实值。DLP投影仪和LCD显示屏同时投射和显示条纹序列分别为[100 99 90]和[36 35 30]的24幅条纹图,彩色CCD相机同时采集标定板反射和偏折的变形条纹图。计算变形条纹的绝对相位,代入公式(5)和(6)。由于平板上各点有相同的移动距离,因此,将计算得到的所有点的均值作为测量值,其结果为2.971 mm,绝对误差为0.029 mm。
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利用所研制复合反射表面测量系统,对非连续表面的物体三维形貌进行了实际的测量实验。由于所用CCD彩色相机的红色和蓝色光谱响应范围重叠区域很小,因此,在测量被测物体时,投影仪和显示屏同时投射和显示蓝色和红色正弦条纹图以减小颜色通道间串扰对测量结果的影响。
图7为相机采集的镜面部分参考条纹及利用八步相移和最佳三条纹选择法解调得到的折叠相位图和绝对相位图。由于参考平面的镜面反射表面刻有黑色圆环图案,致使圆环位置及其周边像素位置的相位信息不准确。因此,得到参考条纹的绝对相位后,采用多项式拟合的方法对其进行预处理,处理后的相位图如图7(d)所示。
Figure 7. Reference fringe and phase map. (a) specular reference fringe map; (b) wrapped phase map; (c) absolute phase map; (d) processed absolute phase map
投影仪和显示屏投射和显示不同颜色的条纹图不仅能够在测量不同反射物体如漫反射、镜面反射及复合反射物体时明确地区分和判断被测物中的镜面反射与漫反射部分为后续不同反射性质表面的形貌恢复提供明确的绝对相位值,而且在表面反射特性未知的情况下也能清楚地分辨物体表面的反射性质以做不同的处理。图8为利用研制的实验系统测量特制的复合反射台阶。图9为利用研制的实验系统测量孤立的漫反射和镜面反射表面。