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自由曲面的描述方法分为参数描述法和多项式描述法,参数法不能用多项式描述,如贝塞尔曲面、B样条曲面[14],因为其描述的面型没有固定的表达形式,在加工和检测过程中会有诸多问题。多项式法描述的面型比较平滑,而且精度较高,目前发展较为成熟,可以加工和检测并投入使用。在成像光学系统中,通常使用Zernike多项式和XY多项式表达自由曲面,其中,Zernike多项式在单位圆内正交,各项像差互不影响,XY多项式与Zernike多项式之间可以互相转换,即可表达各项像差,又能直接对应目前的数控车床加工形式,使用XY多项式,增大光学系统设计自由度,可以有效扩大视场角,校正离轴像差,易于加工和生产。
XY多项式的表达形式:
其中,
式中:
$c$ 为圆锥曲率;$k$ 为圆锥常数;${C_j}{x^m}{y^n}$ 为的XY多项式的第$j$ 项,$m$ 和$n$ 为非负整数,分别代表$x$ 和$y$ 的阶数,在光学设计软件中,XY多项式阶数通常取十阶以内,用来表达自由曲面面型,即$m + n < 10$ [15]。在使用自由曲面优化离轴反射光学系统时,要根据光学系统所包含像差情况,优化自由曲面中能平衡像差的表达式系数。Zernike多项式可以直观描述光学系统像差,将XY多项式与Zernike多项式对应起来,可以在使用XY多项式作为优化变量时准确校正系统像差。现整理出Zernike多项式和XY多项式分别在极坐标系和笛卡尔坐标系下表现形式,并在表1中描述其与Seidel像差的对应关系。表1中
${Z_i}$ 为Zernike多项式系数,${T_i}$ 为XY多项式系数。Term Zernike
polynomialXY polynomial Corresponding aberration type 1 $1$ $1$ Piston(constant) ${Z_1}$ ${T_1}$ 0th order in wavefront 2 $\rho \cos \theta $ $X$ Distortion-tilt(x-axis) ${Z_2}$ ${T_2}$ 2nd order in wavefront 3 $\rho \sin \theta $ $Y$ Distortion-tilt(y-axis) ${Z_3}$ ${T_3}$ 2nd order in wavefront 4 $2{\rho ^2} - 1$ $2\left( {{x^2} + {y^2}} \right) - 1$ Defocus ${Z_4}$ ${T_1} + {T_4} + {T_6}$ 2nd order in wavefront 5 ${\rho ^2}\cos \left( {2\theta } \right)$ ${x^2} - {y^2}$ Astigmatism, primary
(axis at 0°or 90°)${Z_5}$ ${T_4} + {T_6}$ 4th order in wavefront 6 ${\rho ^2}\sin \left( {2\theta } \right)$ $2xy$ Astigmatism, primary
(axis at ±45°)${Z_6}$ ${T_5}$ 4th order in wavefront 7 $\left( {3{\rho ^2} - 2\rho } \right)\cos \theta $ $3{x^3} + 3x{y^3} - 2x$ Coma,Primary(x-axis) ${Z_7}$ ${T_2} + {T_7} + {T_9}$ 4th order in wavefront 8 $\left( {3{\rho ^2} - 2\rho } \right)\sin \theta $ $3{x^2}y + 2{y^3} - 2y$ Coma,Primary(y-axis) ${Z_8}$ ${T_3} + {T_8} + {T_{10}}$ 4th order in wavefront 9 $6{\rho ^4} - 6{\rho ^2} + 1$ $6{x^4} + 12{x^2}{y^2} - 6{x^2} + 6{y^4} - 6{y^2} + 1$ Spherical aberration,Primary ${Z_9}$ ${T_1} + {T_4} + {T_6} + {T_{11}} + {T_{13}} + {T_{15}}$ 4th order in wavefront Table 1. Zernike polynomials and XY polynomials correspond to aberration relations
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为实现100%冷光阑匹配,将制冷型探测器孔径光阑设置于光学系统的出瞳上,最终设计的光学系统视场角为X方向[−4°,+4°],Y方向[2.5°,7.5°]的,其具体参数如表2所示。
Parameter Specification Wavelength range/μm 8-12 Focal length/mm 400 F-number 2 Field of view $8^{\circ }\times 5^{\circ} $ Pixel size/μm 30 Table 2. Optical system specification
避免离轴反射系统结构发生光线遮拦,在构造误差评价函数时需合理配置视场和孔径的离轴量。求解的初始结构视场角为X方向[−2.5°,+2.5°],Y方向为[2.5°,7.5°]的二次曲面离轴反射光学系统,为了在整个视场范围内获得比较好成像质量,选取一半视场范围内的9个视场点:(0°, 2.5°), (0°, 5°),(0°, 7.5°), (1.5°, 2.5°), (1.5°, 5°), (1.5°, 7.5°),(2.5°, 2.5°), (2.5°, 5°), (2.5°, 7.5°)。利用遗传算法对构造的误差函数进行迭代计算,得到最小值。解空间的参数范围和求解结果如表3所示,表中d为镜片间隔,r为曲率半径,k为二次项系数,
$\alpha $ 为倾斜角度。求解系统的点列图均方根直径变化趋势如图2所示。Parameter Range Result d1/mm [−250,−100] −201.4271 d2/mm [100,250] 210.6225 r1/mm [−800,−50] −780.0523 r2/mm [−800,−50] −115.2459 r3/mm [−800,−50] −279.4206 k1 [−10,10] 9.0266 k2 [−10,10] 2.5360 k3 [−10,10] 0.1883 α1/(°) [10,30] 15 α2/(°) [10,30] 25.0181 α3/(°) [10,30] 10.0006 Table 3. Ranges of configuration parameters and optimization result
初始的离轴反射光学系统结构,具有比较好的成像质量,利用光学设计软件对初始光学系统进行优化,为避免光线遮拦和杂散光,须严格控制系统中可能出现的光线遮挡或产生干涉的位置距离,图3详细说明了间隔的约束范围。使用XY多项式描述的自由曲面对系统进行优化时,保证系统关于YOZ面对称,只使用含有x偶次项的多项式,先选取只含有y的参数项,再加上与x偶次幂相关的参数项作为变量,优化过程中同时扩大X方向视场角,最终实现
$8^{\circ }\times 5^{\circ} $ 的大视场制冷型离轴反射系统,扩大视场过程中结构和像质变化情况如图4所示。从图4(c)中可以看出,最终系统结构紧凑,点列图中各视场弥散斑直径最大的是24.779 μm,小于一个像元尺寸。Figure 4. In-progress and final results for design of the initial configuration. (a) Initial system; (b) Results for system construction using Φ(X1, Y1); (c) Final result
离轴反射系统的最大RMS波像差为0.056λ(λ=9 μm),平均RMS波像差为0.037λ(λ=9 μm),如图5所示。光学调制传递函数如图6所示,调制传递函数接近衍射极限,光学调制传递函数在奈奎斯特频率(16 lp/mm)大于0.33,有良好的成像质量。图7中全视场范围内80%的能量都集中在直径为0.06 mm的包围圆内,表明光学系统80%以上的能量都集中在探测器2个像元内,系统的能量集中度较高。
根据以上的分析结果可以看出:自由曲面的应用有效校正了大视场离轴三反系统的像差,在
$8^{\circ }\times 5^{\circ} $ 的大视场下,系统能量集中度高,有良好的成像质量。为了更直观地描述出自由曲面面型,根据光学系统最终的XY多项式面型系数,结合CodeV软件中光线追迹数据与Matlab软件连接,绘出系统中自由曲面面型,如图8所示。由图可见,系统中三个自由曲面面型变化比较平缓,没有局部凸起,适于目前的加工水平。对自由曲面的检测通常采用非球面检测的方法,其中计算全息检测法CGH (Computer-Generated Hologram)得到了广泛的应用[16],针对本系统中的三个自由曲面面型,适用于计算全息检测方法,加工难度和误差较小,可以达到较高的检测精度。
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反射系统的公差主要包括制造公差和装调公差,制造公差包括顶点曲率半径的加工公差(△R)、二次曲面常数项公差(△K),RMS面型公差,装调公差包括在X、Y、Z 3个方向的位移公差、绕X轴和Y轴的旋转公差。为保证系统在有效视场内有良好得成像质量,根据现有的加工、装调能力,用蒙特卡罗方法做1 000次公差分析概率统计,以奈奎斯特频(16 lp/mm)处的MTF作为衡量系统性能标准。公差分配结果如表4所示,表5为各概率下每个视场的详细MTF变动表现,系统在奈奎斯特频率(16 lp/mm)处的 MTF变化曲线如图9所示,从图9公差概率曲线可以直观看出:全视场MTF有80%的概率大于0.3。在装调过程中,可以通过补偿器和计算机辅助安装,自由曲面面型利用CGH方法检测,易于实现高精度自由曲面光学系统的应用。
Surface △R/mm △K RMS surface error(λ=9 μm) Displacement Tilt X/μm Y/μm Z/μm X/(″) Y/(″) Z/(″) PM 0.02 0.10% 1/50λ 20 20 25 30 30 20 SM 0.05 0.05% 1/40λ 40 40 20 20 20 20 TM 0.05 0.10% 1/50λ 20 20 20 20 20 30 Table 4. Tolerances distribution of the system
Cumulative probability Change in MTF F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 50.0% 0.002 4 0.004 3 0.004 6 0.010 5 0.006 4 0.012 8 0.015 6 0.007 6 0.005 4 84.1% 0.012 7 0.012 5 0.017 4 0.036 8 0.017 7 0.024 5 0.038 9 0.026 3 0.024 7 97.7% 0.018 5 0.025 6 0.029 8 0.073 7 0.028 8 0.039 7 0.062 2 0.045 0 0.031 6 99.9% 0.022 4 0.037 8 0.052 5 0.103 0 0.048 4 0.068 5 0.098 4 0.063 7 0.046 7 Table 5. Tolerances performance of all field
Design of the freeform imaging system with large field of view and large relative aperture
doi: 10.3788/IRLA20200005
- Received Date: 2020-01-25
- Rev Recd Date: 2020-03-14
- Available Online: 2020-04-30
- Publish Date: 2020-08-28
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Key words:
- freeform imaging system /
- large field of view /
- large relative aperture /
- matching of cold stop
Abstract: In recent years, freeform surfaces have been used increasingly in off-axis reflective imaging systems with high performance levels. In this paper, the cooled off-axis reflection optical system with both a large FOV(field-of-view) and a large relative aperture was designed based on the initial structure from vector aberration theory and genetic algorithm, by using a biased input field and an offset aperture stop, utilizing freeform surfaces described by XY polynomials to increase degrees of freedom to correct off-axis aberrations. The working band of the system was LWIR(long wavelength infrared) 8-12 μm, the focal length was 400 mm, the F-number was 2, the FOV was