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图4为半透明涂层的红外加热模型。其中a为模型长度,b和l分别为基底和涂层的厚度。
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当脉冲光激励在涂层表面后,一部分光被涂层上表面反射,另一部分光透过涂层上表面,经过涂层吸收后剩余能量辐照在基底表面,被基底吸收。涂层和基底吸收能量后温度迅速升高。为了分析方便,不考虑材料热力学参数随温度变化的情况,仅考虑脉冲光能量和材料的热传导。因此,热传导方程表示为:
式中:$ T_{1}(y, t) $和$ {{T}}_{2}({y,t}) $分别表示t时刻时涂层和基底的温度场; $ k_{1} $ 和$ k_{2} $分别表示涂层和基底的导热系数;$ \;\rho_{1} $和$\; \rho_{2} $分别表示涂层和基底的密度;$ c_{1} $和$ c_{2} $分别表示涂层和基底的比热容;$ q_{1} $和$ q_{2} $为涂层和基底的内热源。
在闪光灯辐照下,半透明涂层吸收闪光灯能量转化成热能引起涂层温度迅速升高,剩余能量被基底金属材料吸收转化成热能引起表层温度迅速升高。金属材料的表层厚度一般在纳米级,因此可以将闪光灯对金属基底的热作用看作边界条件,内热源可以表示为:
式中:$ p_{0} $为脉冲光功率密度;$ f(y) $为闪光灯在涂层内部的空间分布函数;$ g(t) $为闪光灯的时间分布函数。分别表示为:
式中:$\;\mu $为材料的消光系数;$\varepsilon (t)$为关于时间的阶跃函数;${t_0}$为闪光灯脉冲持续时间。在涂层与基底的交界面满足连续条件:
模型中基底下表面的边界条件按照绝热条件处理:
温度场的初始条件:
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由于环氧树脂具备高透明性,将其与碳粉混合作为半透明涂层的材料,结构钢作为基底。
为了确定涂层材料的消光系数$\;\mu $,制作了不同厚度的半透明试片,通过测量不同厚度试片的透射光强,对不同厚度的透射光强进行拟合,效果如图5所示。得到半透明涂层厚度与光强的关系如下:
故半透明涂层的消光系数$\;\mu = 0.496\;5$ mm−1,材料的其他热力学参数如表1所示。
Density/
$\mathrm{k}\mathrm{g}\cdot{\mathrm{m} }^{-3}$Heat
capacity/
$\mathrm{J}\cdot(\mathrm{k}\mathrm{g}\cdot \mathrm{K}$)−1Thermal
conductivity/
$\mathrm{W}\cdot(\mathrm{m}\cdot \mathrm{K}$)−1Coating 1200 1000 0.2 Substrate 7850 475 80 Table 1. Parameters used in the model
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在仿真中,涂层厚度范围为50~200 µm,厚度步长25 µm, 基底厚度5 mm,脉冲峰值功率104 W,闪光灯脉冲持续时间为3 ms。样品表面温度T在对数坐标的时间变化如图6所示。
Figure 6. Simulation surface temperature of samples with different coating thickness vs time in double logarithm scale
结果表明,虽然涂层厚度不同,但由于涂层表面吸收的能量相等,涂层的表面温度在一开始基本相同。由于热传导作用,金属基底表层吸收的能量传递到涂层表面,导致涂层表面温度升高达到峰值温度。随着时间推移,涂层表面温度逐渐降低,直到试件整体达到热平衡状态。
分析图6中温度信号变化规律可知,涂层表面温度到达峰值的时刻与涂层的厚度有关。图7显示了表面温度峰值时刻与涂层厚度在对数坐标的关系。图中的线性关系表明,该方法可应用于半透明涂层的厚度测量。
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将环氧树脂和碳粉混合作为半透明涂层的材料,将其浇注在深色钢板的表面上,钢板右侧向上倾斜0.5 mm。因此,涂层的厚度从左到右逐渐减少。值得注意的是,与常规红外无损检测不同,样品表面不经过喷黑漆处理,图8为厚度连续变化的涂层试件示意图。
基底长200 mm,宽100 mm,厚度5 mm。在浇注涂层前后,分别用千分尺多点测量试件的厚度,取其差值作为该点涂层厚度。
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为了提升脉冲能量的均匀性,使用两个U型闪光灯管作为激励热源,闪光灯能量为9.6 kJ,脉宽为3 ms。在U型闪光灯管前方放置磨砂毛玻璃片,进一步匀化脉冲激励能量。使用非制冷热像仪(Flir A655 sc)采集试件表面温度,其等效噪声温差(NETD)为30 mK,图像分辨率为640×120,采集帧频为200 Hz。计算机控制闪光灯电源及同步触发器,在红外热像仪单帧图像采集结束后,电源驱动闪光灯对样品表面进行加热。红外热像仪采集样品表面温度信息,并将其传输回计算机进行数据处理分析。选取部分热成像序列如图9所示。
图10为在对数坐标中绘制了不同涂层厚度的表面温度与时间的关系及拟合曲线。结果表明,不同涂层厚度下的表面温度变化趋势与模拟结果基本一致。表面温度的对数峰值时刻与涂层厚度之间存在单调关系。
Figure 10. Experimental surface temperature of samples with different coating thickness vs time in double logarithm scale
实验结果与理论结果的数据差异在于:实验结果中的表面温度峰值时刻与涂层厚度在对数坐标上的线性关系存在误差。造成该现象的主要原因有以下方面:(1)热像仪帧频导致温度数据丢失,对于较薄涂层,表面温度的峰值出现的较早,温度上升较快。热像仪采集到的表面温度峰值时刻存在误差,曲线拟合在一定程度上降低了表面温度峰值时刻的误差。(2)数值计算中将半透明涂层样品简化成一维热传导模型,其材料均匀各向同性,但实验上的样品厚度连续变化,不如理论样品理想。(3)理论计算中涂层表面均匀加热,实验时闪光灯能量的分布并不如理论理想。
在对数坐标中,表面温度的峰值时刻与涂层厚度之间的关系曲线如图11所示。可以看出,它们之间存在线性关系,与图7所示的模拟结果一致,这些数据点与拟合直线的偏差在5%以内。
同一样本在另外四个区域取样。根据图11的校准曲线计算涂层厚度,结果如表2所示,厚度误差在5%范围内。
Thickness by
micrometer/
μmThickness by
thermography/
μmDifference 1 103 99.7 3.3% 2 136 139.2 2.3% 3 158 160.6 1.6% 4 197 189.4 4.0% Table 2. Measurement result of coating thickness
图12为试件厚度分布的图像。厚度从右侧较薄的一侧逐渐过渡为左侧较厚的一侧。由于红外热像仪帧频和闪光灯能量强度的限制,检测区域仅包括试样的右半部分,涂层厚度在80~220 µm之间。
Measurement of translucent coating thickness based on pulsed thermography
doi: 10.3788/IRLA20210890
- Received Date: 2021-11-24
- Rev Recd Date: 2022-01-29
- Available Online: 2022-03-04
- Publish Date: 2022-02-28
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Key words:
- pulsed thermography /
- coating thickness measurement /
- finite element simulation /
- translucent coating
Abstract: To measure the thickness of translucent coating quickly and accurately, the method based on pulse thermography was proposed. A simplified theoretical semi-infinite model of pulsed infrared heating conduction for translucent coating and a two-layer physical model of pulsed infrared heating for translucent coatings were established. The theoretical analysis and numerical results show that the thickness of the translucent coating is linearly proportional to the peak time of the surface temperature in logarithmic coordinates, through which the thickness of the translucent coating can be derived without spraying black ink on the surface of the sample to avoid the effect of translucency. A translucent coating specimen with continuously varying thickness was fabricated and tested with a flash thermographic system. The result of the measured thicknesses is within 5% of the actual values. It demonstrates that the technique has the potential for fast and non-contact measurement of the thickness for translucent coatings.