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高反射率介质反射镜的设计,通常可以采用两种不同折射率的膜层交替实现,从膜系界面上反射的光束因具有相同位相,会发生相长干涉,可以获得很高的反射率[19]。因此,可以采用H和L两种高、低折射率的材料,周期性地叠加作为膜系结构,比如:(H L)^n,n的取值越高则反射率越高。考虑实际镀膜过程中存在膜层的吸收和散射,设计时必须选择合适的膜系层数来实现高反射率。
这样的初始结构较容易实现相应波段的高反射率,但却无法避免P光和S光在宽角度入射下位相差过大的现象。利用等效多层膜理论:对于以中间一层为中心,两边对称安置的多层膜,却具有单层膜特征矩阵的所有特点,推广到任意多层膜组成对称膜系,最终又形成一个等效单层膜[20−21],改变膜系层数和厚度,以获得不同的等效折射率和等效位相,以实现位相调控的目的。
根据以上原理,设计方法如下:选择两种不同折射率材料,H、L分别代表高、低折射率材料,(H L)^n作为基本膜系结构,设计波长以截止带中心位置处于信号通道为准,在基本膜系结构外层加d1L d2H d3L或d1H d2L d3H等效多层位相调控层,考虑初始膜系结构为 G|(H L)^14 |d1H d2L d3H d4L d5H d6L d7H d8L|Air,其中G为基底(石英),Air为空气,d1~d8代表膜层的厚度系数,为非规整位相调控膜层。根据任务指标设定优化目标,采用Global Modified LM或Global Simplex等优化方法进行优化迭代,优化d1~d8,以获得最佳设计结果。
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反射镜根据系统应用要求,技术指标如表1所示。
Technical index Value Target wavelength/nm 780 Range of incidence angle/(°) 45±7.5 Reflectance ≥99% Phase difference/(°) ≤3 Table 1. Technical index of mirror
根据上述设计思想,选择薄膜材料时需综合考虑反射镜的工作波段,考察薄膜材料的透明区、折射率、吸收系数及基底和薄膜材料之间的应力匹配、牢固度等因素[22−23]。为此,选择Nb2O5(H)和SiO2(L)作为高、低折射率材料。初始膜系结构为G|(HL)^14 d1H d2L d3H d4L d5H d6L d7H d8L|Air,设计波长890 nm,H的折射率为2.22@890 nm,L的折射率为1.44@890 nm。将初始膜系结构代入光学薄膜设计软件Filmwizard,在优化目标设定时,按照任务要求,分别在37.5°、45°和52.5°三个角度下设置优化目标参数,使得优化结果可以满足入射范围45°±7.5°的任务要求。优化目标设定780 nm处反射率>99%,位相差<3°。通过不断优化每层薄膜的厚度系数,以实现评价函数最小、光谱性能最佳的结果。最终设计结果为:(H L)^14 0.231 H 0.935 L 1 H 1.15 L 1.122 H 1.043 L 1.051 H 0.907 L,设计波长890 nm。设计结果如图2所示。
Figure 2. Reflectance design curve (a) and phase difference design curve (b) of phase control mirror
Incidence angle/(°) Reflectance Phase difference/(°) 37.5 99.62% 0.22 45 99.57% 0.34 52.5 99.46% 1.09 Table 2. Design result of reflectance and phase difference at target wavelength (780 nm)
从表2可以看出,设计能达到预期目标,在目标波长处,45°±7.5°入射范围内实现了99.4%以上的高反射率,且位相差控制在1.1°以内。虽然从图2(b)中可以看出位相差最佳位置在790 nm处,但在大于790 nm时,52.5°入射下位相差急剧变化。考虑研制时不可避免的工艺误差,实际光谱位置会有偏差,结合光谱定位容差考虑,该设计结果是合理可行的。
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设计膜系的最后八层为非规整膜系,对监控精度要求很高。为此,利用Optilayer对设计膜系进行了膜层误差引起光谱变化的灵敏度分析。
如图3所示,膜系最外层的灵敏度较大,在研制过程中需要进行精确控制。对位相调控膜系引入1%的随机误差,做进一步分析,观察其对位相差的影响,引入误差后的位相差曲线如图4所示。从表3看出,在37.5°、45°和52.5°三个角度下,780 nm处的位相差小于2.5°,可以满足反射镜需将位相差控制在3°以内的任务要求。因此,可以依据上述设计膜系开展实际的研制工作。
Figure 4. Phase difference error analysis curves under 37.5° incidence (a), 45° incidence (b), 52.5° incidence (c)
Incidence angle/(°) Error +1% Error 0% Error −1% 37.5 0.51 0.22 0.017 45 1.326 0.34 0.654 52.5 2.14 1.09 0.291 Table 3. Phase difference error analysis at target wavelength (780 nm)
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该反射镜的制备是在德国莱宝公司生产的Lab900-plus型真空镀膜机上完成的,设备配有两把e型电子枪,SiO2采用环形坩埚,Nb2O5采用七穴坩埚。同时,配有四探头石英晶振物理厚度控制系统、OMS5100光学自动控制系统和栅网口径为12 cm的Veeco射频(RF)离子源。样品为Φ50×5 mm的石英基片,研制时参考量子卫星保偏金属反射镜研制工艺参数[14−15],具体如下:当真空到达6×10−2 Pa时,打开工件旋转,设定烘烤温度为200 ℃,保温2 h,真空到达2×10−3 Pa时,打开离子源,充入O2 后进行离子辅助薄膜沉积。工艺参数如表4所示。
Parameter Value Nb2O5 SiO2 Rate/nm·s−1 0.15 0.8 EB oxygenation/sccm 40 30 RF bias voltage/V 600 600 RF discharged current/mA 500 500 Background pressure/Pa 2×10−3 2×10−3 Baking temperature/℃ 200 200 Table 4. Deposition process parameters
在研制过程中,首先尝试使用光学极值百分比监控策略 (POEM)进行29~36非规整膜层的监控,但效果并不理想。分析其原因,当采用该监控策略时,监控波长选择时需尽可能使监控停止位置距离下一个极值点保持4%×(Tmax−Tmin) 以上距离[24],以减小监控误差。结合设计膜系,因为29层厚度较薄,导致部分膜层未能找到合适的监控波长,使其判停点处于4%×(Tmax−Tmin)区间,因此产生镀制误差。而与此同时,对坩埚材料蒸发消耗量变化、晶振参数修正等方面进行膜厚分析及改进后,提高了晶振控制的精度,通过实验结果发现,29~36层采用晶振监控方式研制出的位相调控反射镜可满足任务要求。因此,最终选择1~28层光学监控、29~36层晶振监控的监控方式。
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反射镜的反射率光谱曲线是在美国 PE 公司生产的 Lamda900型分光光度计上完成的,其配有V-W反射率测试附件,可以进行30°~60°入射下的反射率测试;位相差测试是在美国J. A. WOOLLAM 公司生产的 VASE-32可见近红外椭偏仪上完成的,其可以进行15°~90°入射下的位相差测试,测试原理如图5所示。
式中:$\psi $和Δ为椭偏仪能够测量的样品椭偏参数,tan$\psi $为反射光P光与S光的振幅比,Δ为P光与S光的位相差。测试结果如图6所示。
Incidence angle/(°) Reflectance Phase difference/(°) 37.5 99.60% 0.46 45 99.47% 0.36 52.5 99.36% 2.83 Table 5. Test result of reflectance and phase difference at target wavelength (780 nm)
研制结果如表5所示,反射镜在入射角度为37.5°、45°和52.5°时,780 nm处反射率大于99.3%,且位相差小于3°,满足任务要求。
最终研制的反射镜其反射率曲线和位相差虽然都满足任务要求,但与设计结果存在一定的差异。主要是由以下两个原因造成的:1) 非规整膜层监控有误差,导致制备结果出现偏差;2)研制时所用监控参比片和试验件厚度为1 mm,与正式产品厚度的5 mm差异较大,导致薄膜沉积后性能产生偏差。
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按照航天产品环境模拟实验要求,对反射镜进行了可靠性及牢固度实验,实验结果见表6。实验项目如下[15]。
1) 附着力实验:采样标准聚酯胶带紧贴样品膜层表面,沿膜层表面垂直拉起,观察膜层是否脱落。
2) 浸泡实验:在45±1 ℃ 的水中浸泡8 h,观察膜层是否脱落。
3) 温度交变实验:在50±1 ℃环境中保持 1 h,然后在−25±1 ℃ 环境中保持1 h,循环三次,观察膜层是否脱落。
4) 湿热实验:在相对湿度 95% 、温度45±2 ℃的大气中保持24 h,观察膜层是否脱落。
Experiment Result Adhesion experiment Pass Soaking experiment (45±1 ℃) Pass High (50±1 ℃) and low (−25±1 ℃) temperature experiment Pass Temperature (45±2 ℃) and humidity (95%) experiment Pass Table 6. Reliability and durability results of mirror
Design and fabrication of wide angle phase control mirror
doi: 10.3788/IRLA20230721
- Received Date: 2023-12-27
- Rev Recd Date: 2024-02-06
- Publish Date: 2024-04-25
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Key words:
- optical thin film /
- phase control /
- mirror /
- polarization /
- wide angle
Abstract: